SPLAT-II 单颗粒激光解析飞行时间质谱仪

1）仪器描述
单 颗 粒 激 光 解 析 飞 行 时 间 质 谱 仪 SPLAT-II （ Single Particle Laser AblationTime-of-Flight Mass Spectrometer II）是一种单颗粒质谱仪，采用 UV/IR两步解析，并用两束间隔 2~3μs 的激光将气溶胶解吸附和电离过程分开进行，在短暂的时间间隔内解吸产生的化合物蒸气，密度降低，减少了电离过程中的基质效应，并可提供前所未有的灵敏度和时间分辨率，增加细粒子检测的几率和精度。该仪器 1 秒种内可以对 500 多个气溶胶粒子进行粒径测量，并能对其中的 100 个单粒子进行化学组成分析。在 SPLAT-II 的入口安装 DMA 分析仪，两种仪器的联用可以得到气溶胶颗粒的粒径、化学组成、有效密度、形状因子和吸湿性等特征 ，甚至能够区分球形和非球形粒子。在SPLAT-II 中，颗粒解离由激光器完成，标准配置的飞行质谱记录正离子的飞行时间，且纵向分辨率为 14bit；可选配置可同时记录正、负离子的飞行时间。SPLAT-II 可搭载于飞机上进行航空测量。
2）仪器参数
灵敏度：1 P/cm3s（>125 nm）
定径精度：3 nm
离子发生装置：紫外烧蚀或红外蒸发或紫外离子化
化学分析：飞行时间质谱仪
A/D 转换器：纵向分辨率 14 bit
定径速率：>500P/s
粒子形状：区分球形和非球形粒子
SPLAT/DMA：密度、形状、分形维数、吸湿性
质谱测定速率：100P/s
粒径范围：50…3000 nm
3）仪器应用
柴油车尾气中的应用
粒径分布
化学成分分析
在有机气溶胶方面的应用
颗粒形态学方面的应用